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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
끂6772 305.87 KB -
2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
끂6847 1.85 MB -
2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
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2020-01-03 金属材料反射率测量.caj
끂3331 8.89 MB
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
끂7357 810.49 KB -
2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
끂7225 1.5 MB -
2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
끂7213 4.33 MB
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
끂6858 1.85 MB -
2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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2019-03-18 UAS sensors and data processing in agroforestry a review towards practical applications.pdf
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2022-11-21 安洲科技 无人机多源遥感产品册.pdf
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2020-08-26 WIRIS Pro 高性能机载热红外成像仪.pdf
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2020-08-26 SOC系列高光谱成像光谱仪.pdf
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2020-08-26 SEI高性能地物光谱仪.pdf
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2020-08-26 S185 机载画幅式高速高光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 K6 科研级机载多光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 425全波段高光谱成像系统.pdf
끂6985 829.76 KB
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全国统一电话:4006-507-608
SOC760 全光谱/短波红外高光谱成像系统
SOC760 全光谱/短波红外高光谱成像系统特别适合需要高分辨率光谱数据的实验室或地面应用场景,波长范围覆盖可见-近红外到短波近红外。
SOC760为便携式双波段单视场高光谱成像系统,波长范围从0.4~2.5μm,每个数据立方体中捕获650个波段配准图像。
每个光谱图像沿光谱仪狭缝方向为640像素,沿扫描方向为2048像素,光学系统采用一个摆扫扫描镜片,将光定向传送到二色分束器,该分束器反射近红外波长并透射短波红外辐射。每个通道都有独立前视和透射光栅分光仪。短波红外通道具有一个制冷的InSb焦平面阵列检测器。扫描成像时,摆扫扫描镜步进扫描和焦平面检测器成像同步;
采用配备高性能处理器、高端显卡及2TB存储的笔记本工作站,定制的GUI界面处理软件可进行数据采集、校准、数据提取等。后期数据处理推荐采用ENVI,譬如进行PCA主成分分析等。
应用领域
※ 矿产资源
※ 农业林业
※ 生物医学
※ 食品药品
※ 考古
※ 文化遗产保护
※ 环境科学研究
※ 法医鉴定
技术指标
型 号 |
SOC760 |
SOC760-S |
|
光谱区间 |
VNIR |
SWIR |
SWIR |
光谱范围(nm) |
400~1000 |
1000~2500 |
1000~2500 |
光谱分辨率(nm) |
2.5 |
5 |
5 |
光谱波段 |
650 |
400 |
|
空间分辨率 |
650*2048 |
650*2048 |
|
像素尺寸 |
20μm |
20μm |
|
镜头 |
单镜头 |
单镜头 |
|
视场角 |
12.5° |
12.5° |
|
瞬时视场角 |
340 μr |
340 μr |
|
最大频率 |
120Hz |
120Hz |
|
数据立方体扫描速度 |
8s~5min(室内2~3min) |
8s~5min(室内2~3min) |
|
扫描方式 |
步进式扫描镜 |
步进式扫描镜 |
|
最小扫描幅度 |
<0.01mrad |
<0.01mrad |
|
制冷方式 |
低温制冷(非液氮) |
低温制冷(非液氮) |
|
动态范围 |
14-bit |
14-bit |
|
接口 |
USB3.0 |
USB3.0 |
|
校准格式 |
绝对光谱辐射,绝对波长 |
绝对光谱辐射,绝对波长 |
|
输出格式 |
SOC,BIL,BSQ,BIP,ENVI |
SOC,BIL,BSQ,BIP,ENVI |
产品列表
测量服务
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