SOC-210 BDR 高精度BRDF测量仪

从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，
实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。

SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。BRDF 数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息，如表面能量散射的方向和强度。

主要特点：

n 光谱范围：0.35~14μm（基于检测器选项）

n 测量本底噪声：<10-3sr-1

n 可水平装置粉末和液体样品进行测量

n 重复性：＜本底噪声的5％

n 全自动测量四个角坐标（Θ and Φ、入射及反射角）

n 集成电控单元，用于快速处理、显示和存储数据

n 自动带通滤光轮，一次性测量十二种多光谱通道。

n 支持斯特林循环冷却的MCT和InSb检测器，可以无人值守地全自动数据采集，自动切换标样样品测量

测量指标：

n 全半球双向反射分布函数（BRDF）

非偏振BRDF

线性偏振BRDF

n 双向透射分布函数（BTDF）

应用领域：

n 航空工业

n 国防

n 航天

n 行星探测

n 涂层领域

n 光学材料质量控制

技术参数：

项目	参数
测量项目	BRDF、BTDF
光谱范围	0.35~14μm
角度范围	∙ Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° ∙ Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350° ∙ Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85° ∙ Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360°
角度精度	0.1°
光谱滤波	标准商业化1英寸薄膜带通滤光片
自动化	Θi，Φi，Θr，Φr，光源孔径，滤光轮和样品/参照X极
光源	Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower
检测器	Si, InGaAs, dual InSb/MCT
本底噪声	<10-3sr-1
样品尺寸	直径1英寸圆片、粉末、液体
运行	PC控制，全自动测量
尺寸	53″W x 53″D x 75″H

产地：美国

产品列表

测量服务

摘要：

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