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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
끂7889 305.87 KB -
2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
끂9011 1.85 MB -
2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
끂8329 2.96 MB -
2020-01-03 金属材料反射率测量.caj
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
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2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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2019-03-18 UAS sensors and data processing in agroforestry a review towards practical applications.pdf
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2022-11-21 安洲科技 无人机多源遥感产品册.pdf
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2020-08-26 WIRIS Pro 高性能机载热红外成像仪.pdf
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2020-08-26 SOC系列高光谱成像光谱仪.pdf
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2020-08-26 S185 机载画幅式高速高光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 K6 科研级机载多光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 425全波段高光谱成像系统.pdf
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全国统一电话:4006-507-608
HDR-IR 高动态红外热像仪
HDR-IR系列高动态红外热像仪可以满足更广的动态温度范围的场景使用需求,最大限度地提高热像仪的灵敏度, 自动的适应复杂的静态或动态的场景并实现自动曝光,温度范围最高为2500℃。
HDR-IR 高动态红外热像仪
关键性能及优势
n 超高动态范围
Telops独有非线性校正和自动曝光等技术,确保目标观测时最高的对比度和精度。
n 高速数据传输率
高性能硬件保证设备以高达每秒 300 帧的速率生成全帧热红外图像。
n 先进的标定
实时图像处理包括非均匀性校正,辐射温度测量,自动曝光(AEC) 和增强高动态范围成像 (EHDRI)。
典型应用案例
技术参数
DETECTOR 参数 |
HDR M100k |
HDR V300 |
||
探测器类型 |
Cooled MCT |
Cooled MCT |
||
波段范围 |
3 μm to 4.9 μm |
7.7 μm to 11.8 μm |
||
空间分辨率 |
640 × 512 pixels |
320 × 256 pixels |
||
像元间距 |
16 μm |
30 μm |
||
通光孔径 |
F/4 (other available) |
F/2 |
||
TYPICAL PERFORMANCES |
||||
帧频 |
115 Hz |
309 Hz |
||
最高帧频 |
120 000 Hz @ 64 × 2 |
79 000 Hz @ 64 × 2 |
||
等效温差 |
17 mK |
25 mK |
||
ELECTRONIC 参数 |
||||
曝光时间 |
0.2 μs to full frame rate |
0.5 μs to full frame rate |
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通用参数 |
||||
探测I制冷方式 |
旋转斯特林闭环制冷机 |
|||
标准的场景测温范围 |
Up to 1 500 °C (2 500 °C opt.) |
|||
窗口模式提高帧频 |
Yes |
|||
动态范围 |
16 bits |
|||
测量精度 |
1 K or 1 % (°C) from -15°C to 150°C |
|||
尺寸(不含镜头) |
352 mm × 216 mm × 236 mm |
|||
重量(不含镜头) |
< 13 kg |
产品列表
测量服务
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