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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
끂9011 1.85 MB -
2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
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2020-01-03 金属材料反射率测量.caj
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
끂8694 1.85 MB -
2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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2019-03-18 UAS sensors and data processing in agroforestry a review towards practical applications.pdf
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2022-11-21 安洲科技 无人机多源遥感产品册.pdf
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2020-08-26 WIRIS Pro 高性能机载热红外成像仪.pdf
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2020-08-26 SOC系列高光谱成像光谱仪.pdf
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2020-08-26 SEI高性能地物光谱仪.pdf
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2020-08-26 S185 机载画幅式高速高光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 K6 科研级机载多光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 425全波段高光谱成像系统.pdf
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全国统一电话:4006-507-608
SP301EX高性能中波红外光谱仪
SP301/SP301-EX采用高性能PbS/PbSe阵列探测器作为红外检测单元,在零下10度以下工作,保证了长期稳定性。仪器具有内置自动快门和自动暗电流功能,可以实现自动测量。可以采取两种进光方式:狭缝直接进光或光纤进光。
SP301/SP301-EX波长范围覆盖1-3μm或1.5-5μm,可以在过程控制、光谱分析、环境监测等领域应用,通过不同组件的搭配可以测量透过、反射、吸收等数据。
SP301/SP301-EX包括四个部分:
1. 包括内置狭缝的进光系统,光纤连接器
2. 高质量光学器件的交叉Czerny-Turner平台
3. 线性阵列PbS/PbSe探测器和控制电路,TE制冷单元
4. 电脑接口用于数据采集。所有部件都封装在坚固的铝制外壳内,以保证运行的稳定性
q 弱光条件下的新型自动快门设计
q 低噪声
q 制冷型探测器,最低可至 -20℃
q 光谱范围1.0-3.0 μm(PbS)/1.5-5.0 μm(PbSe)
q 狭缝输入或光纤输入
典型应用:红外光谱分析,红外吸收光谱;透射率,反射率和吸收率测量
主要参数
型号 |
SP301 |
SP301-EX |
探测器 |
PbS |
PbSe |
像素:256 像元: 45µm x 450µm 探测速度: 2MHz max. 线性度: >90% 响应一致性(p-p): ±10% |
||
光谱范围 |
1.0~3.0 μm |
1.5~5.0μm |
光谱分辨率 |
10 -30nm(取决于狭缝和光栅) |
|
F/# |
3.5 |
|
光纤接口 |
SMA905 or FC standard |
|
暗噪声 |
20 RMS counts in 16bit |
|
杂散光 |
< 0.1% |
|
积分时间 |
0.01 to 200 ms(on board) |
|
触发方式 |
自动模式 外部触发模式 |
|
10, 25, 50, 100µm (default: 25µm) |
||
TE制冷温度 |
-15~-20℃(默认-15℃) |
|
数据接口 |
USB 1.1/2.0 16 bit |
|
电源适配器 |
In Input: 240-Volts AC (47 - 63Hz ) Output: 15.0-Volts DC & 1.6A |
|
系统要求 |
Win7/Win8.1/Win10 (both 32/64bit) |
|
软件 |
32Pro Visual C++ DLL /LabVIEW VI SDK |
|
物理尺寸 |
173 x 120 x 98.1mm |
|
重量 |
2.5Kg |
产品列表
测量服务
摘要:
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