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SP642 紫外可见近红外光谱仪
SP642紫外可见近红外光谱仪，配置了紫外增强型的背照式CCD探测器，测量光谱范围可以达到200nm，探测器像素高达2048，同时具有很高的动态范围和信噪比，实现了在更宽的光谱探测范围内拥有很高的光谱分辨率。
利用专业的光谱信号控制技术，使得SP642的暗噪声及杂散光都控制在极低的水平，保障了数据质量。通信接口采用通用的USB1.1/2.0，16-bit精度。配套基于 Windows的操作软件，易学易用，同时包含有SDK和DLLs，可供二次开发。
可提供高分辨率版本642HRS，用户可根据需求选择狭缝，获得不同的光谱分辨率。
产品特点
q 高性价比，科研级性能
q 低噪声，低杂散光
q 高信噪比和良好的动态范围
q 高紫外增强探测器
q 灵活的光学输入
q 高速获得数据
q 波长范围覆盖200-1050 nm
q 为弱光条件新升级的自动快门
主要参数
|
型号 |
SP 642 |
SP 642HRS |
|
探测器 |
S10420-1106背照式CCD 像素：2048×64 像元：14μm×14μm 阱深：200 ke- 量子效率：>75% @600nm |
S10420-1106背照式CCD 像素：2048×64 像元：14μm×14μm 阱深：200 ke- 量子效率：> 90% @650nm, 65% @250nm |
|
光谱范围 |
200-1050 nm |
Full Range: 200 - 1050nm |
|
分辨率 |
0.25 ~ 7nm（取决于光栅和狭缝） |
0.1~ 7nm（取决于光栅和狭缝） |
|
F/# |
3.3 |
3.3 |
|
光纤接口 |
SMA905或FC |
SMA905/FC |
|
杂散光 |
<0.01% at 632nm (<0.05% Ave) |
<0.01% at 632nm (<0.05% Ave) |
|
暗噪声RMS |
< 7 counts in 16bit @35ms |
< 7 counts in 16bit @35ms |
|
信噪比 |
>450: 1 |
>450: 1 |
|
积分时间 |
7 ms（min） |
7 ms（min） |
|
触发模式 |
自动运行模式 软件触发模式 硬件触发模式(9-pi) TTL边缘触发输入/数字输出 |
自动运行模式 软件触发模式 硬件触发模式(9-pi) TTL边缘触发输入/数字输出 |
|
狭缝 |
10,25,50,100,200,400µm |
10,25,50,100,200,400µm |
|
数据接口 |
USB 1.1/2.0 16 bit |
USB 1.1/2.0 16 bit |
|
软件平台 |
Win7/Win8.1/Win10 (32/64bit) |
Win7/Win8.1/Win10 (both 32/64bit) |
|
软件 |
标配32Pro 包括DLL和SDK应用程序 |
标配32Pro 包括DLL和SDK应用程序 |
|
尺寸 |
15.2 X 10 X 6.36cm |
22 x 17.5 x 8.55 cm |
|
重量 |
1.2Kg |
3Kg |
