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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
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2020-01-03 金属材料反射率测量.caj
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
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2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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2019-03-18 UAS sensors and data processing in agroforestry a review towards practical applications.pdf
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2022-11-21 安洲科技 无人机多源遥感产品册.pdf
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2020-08-26 WIRIS Pro 高性能机载热红外成像仪.pdf
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2020-08-26 SOC系列高光谱成像光谱仪.pdf
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2020-08-26 SEI高性能地物光谱仪.pdf
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2020-08-26 S185 机载画幅式高速高光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 K6 科研级机载多光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 425全波段高光谱成像系统.pdf
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全国统一电话:4006-507-608
FTNIR-L1 近红外傅里叶变换光谱仪
FTNIR-L1系列近红外傅里叶变换光谱仪是一种高性能傅里叶变换近红外光谱仪系统,具有高分辨率、宽波长范围和出色的灵敏度等特点。相对于一般限制在2100nm的光栅光谱仪,L1系列FTNIR具备更宽的测量范围,在波长以及强度上均具备出色的稳定性,是一种理想的高重现性分析工具。与阵列光电二极管近红外光谱仪相比,FT-NIR的单路光电二极管操作不存在缺陷像素、像素间无增益变化、无暗电流漂移,且不像一般的光栅光谱仪那样容易受到杂散光的影响。
产品特点:
w 宽光谱范围:0.9-2.6μm
w 高分辨率:4cm-1(相当于<0.5nm@1um和<2.5nm@2.5um)
w 在强度和波长范围上具有出色的稳定性(无暗电流引起的漂移)
w 极好的灵敏度(可用于2级TE冷却的InGaAs)
w 紧凑、坚固、易于使用的光纤输入系统
w 具有成本效益(单个NIR光电二极管)
L1系列近红外FT光谱仪是一款高性能、紧凑结构的近红外光纤光谱仪,适用光谱范围900~2600nm,其内部永久对齐干涉仪和固体基准激光器,在测量强度以及波长范围上均具有出色的稳定性。FT-NIR光谱仪通常与基于阵列检测器的近红外光谱仪的光源和采样附件(如光纤,比色皿夹等)兼容使用。L1系列近红外FT光谱仪主要部件包括固态基准激光器和永久对齐干涉仪两部分。
L1系列近红外FT光谱仪应用:
w 透射率、漫反射测量
w 光源测量(近红外激光器、发光二极管、太阳能等)
w 地质材料、食品、饮料、工业、医疗诊断等领域的材料分析
L1系列近红外FT光谱仪的主要参数:
型号 |
FTNIR-L1-026-0TE |
FTNIR-L1-025-2TE |
干涉仪类型 |
永久对齐,双反光镜设计 |
|
光谱范围 |
11000~3850 cm-1 |
11000~4000 cm-1 |
光谱范围 |
900~2600 nm |
900~2500 nm |
光谱分辨率 |
4或8 cm-1 |
|
探测器 |
无制冷 |
扩展型InGaAs PIN光电二极管 可选择2TE冷却 |
长期基线强度稳定性 |
< 2% (1100-2500nm) over 10 hrs |
|
波数可重复性 |
< 10ppm |
|
SNR |
>200'000:1 (8cm-1分辨率,1分钟扫描时间) |
|
有效测量时间 |
连续模式下的1频谱/秒 |
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光纤连接器 |
SMA 905 |
|
光学入口 |
< 1mm (fiber core diameter) NA=0.25 |
|
基准激光器 |
固态795 nm,温度稳定 |
|
A/D转换器 |
24位 |
|
功率要求 |
7.5-12V/1-6W视版本而定 |
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操作温度 |
5°C-40°C |
|
通信接口 |
USB2.0(可选以太网) |
|
软件接口 |
Windows XP/7/8/10 通过dll控制仪器的API |
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尺寸 |
180毫米x160毫米x80毫米 |
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重量 |
1700 g |
L1近红外FT光谱仪接积分球系统图示
典型矿物反射光谱曲线
产品列表
测量服务
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